DIN 50441-1-1981 无机半导体材料的检验.半导体片几何尺寸的测量.厚度测量
作者:标准资料网 时间:2024-05-09 21:40:26 浏览:8305
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Testingofsemiconductiveinorganicmaterials;determinationofthegeometricdimensionsofsemiconductorslices;measurementofthickness
【原文标准名称】:无机半导体材料的检验.半导体片几何尺寸的测量.厚度测量
【标准号】:DIN50441-1-1981
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1981-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;测量;试验;厚度;半导体;表面
【英文主题词】:surfaces;testing;semiconductors;measurement;thickness;definitions
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:2P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:无机半导体材料的检验.半导体片几何尺寸的测量.厚度测量
【标准号】:DIN50441-1-1981
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1981-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;测量;试验;厚度;半导体;表面
【英文主题词】:surfaces;testing;semiconductors;measurement;thickness;definitions
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:2P;A4
【正文语种】:德语
下载地址: 点击此处下载